एक बड़ी लॉजिक मशीन में (मान लीजिये, सौ से अधिक लॉजिक चर वाली) संभव स्टेट की एक खगोलीय संख्या हो सकती है। जाहिर है, कारखाने में, हर स्टेट का परीक्षण अव्यावहारिक है अगर हर स्टेट के परीक्षण में एक माइक्रोसेकंड लगता है और ब्रह्मांड के शुरू होने से ही माइक्रोसेकंड की संख्या से कहीं अधिक स्टेट हैं। दुर्भाग्य से, यह हास्यास्पद लगने वाला मामला विशिष्ट है।

सौभाग्य से, बड़ी लॉजिक मशीनों को लगभग हमेशा छोटे लॉजिक मशीनों के संयोजन के रूप में तैयार किया जाता है। समय बचाने के लिए, छोटे उप मशीनों को, स्थायी रूप से स्थापित "डिज़ाइन फॉर टेस्ट" सर्किटरी द्वारा पृथक किया जाता है और स्वतंत्र रूप से जांच की जाती है।

"स्कैन डिजाइन" नाम की एक आम परीक्षण योजना, टेस्ट बिट्स को क्रमिक रूप से (एक के बाद एक) एक या एक से अधिक "स्कैन चेन" नाम के क्रमिक शिफ्ट रजिस्टर के माध्यम से हटाती है। क्रमिक स्कैन में, डेटा ले जाने और बार-बार इस्तेमाल ना होने वाले टेस्ट लॉजिक के भौतिक आकार और खर्चे को कम करने के लिए केवल एक या दो तार होते हैं।

सारे परीक्षण के बाद, डेटा बिट्स जगह पर हैं, डिज़ाइन को "सामान्य मोड" के लिए रीकन्फिगर किया जाता है और एक या एक से अधिक क्लॉक पल्स को लागू किया जाता हैं, ताकि दोष का पता लग सके (जैसे स्टक-ऐट लो या स्टक-ऐट हाई) और परीक्षण के परिणाम का प्रग्रहण स्कैन शिफ्ट रजिस्टर में फ्लिप-फ्लॉप में और/या लेचेस में किया जाता है। अंत में, परीक्षण के परिणाम को ब्लॉक सीमा में स्थानांतरित कर दिया जाता है और पूर्वानुमान "गुड मशीन" नतीजे के प्रति तुलना की जाती है।

एक बोर्ड टेस्ट पर्यावरण में समानांतर टेस्टिंग के क्रम को, एक मानक "JTAG" के साथ औपचारिक रूप दिया गया है (प्रस्तावित संयुक्त कार्य समूह टेस्ट के नाम पर)।

एक अन्य आम परीक्षण योजना, एक ऐसा परीक्षण मोड प्रदान करती है जो लॉजिक मशीन के कुछ हिस्से को "जांच चक्र" में प्रवेश के लिए बाध्य करता है। परीक्षण चक्र, आम तौर पर मशीन के बड़े स्वतंत्र भागों का प्रयोग करता है।

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