They sent single electrons onto nanofabricated slits (about 100 nm wide) and, by collecting the transmitted electrons with a single-electron detector, they could show the build-up of a double-slit interference pattern.
Enviaron electróns individuais a fendas nanofabricadas (ao redor de 100 nbsp; nm de ancho) e, ao colleitar os electróns transmitidos cun detector dun só electrón, poderían mostrar a acumulación dun patrón de interferencia da dobre fenda.