무역위원회, 반도체 테스트소켓 특허권 침해 조사건에 대해 비침해 판정
무역위원회, 반도체 테스트소켓 특허권 침해 조사건에 대해 비침해 판정- 2018.8.23에 제380차 무역위원회 개최 -
□ 산업통상자원부 무역위원회는 8월 23일(목) 제380차 회의를 무역센터(서울)에서 개최하여, 반도체 테스트 소켓 특허권 침해 조사건에 대해 불공정무역행위 여부를 판정했다.
□ 이번 조사 건은 국내 업체 ㈜아이에스시가 지난 2017년 11월 9일에 무역위원회에 조사를 신청해 2017년 11월 27일에 개시한 것으로, 약 9개월간 진행했다.
ㅇ 무역위원회는 조사를 진행하면서 양 당사자로부터 총 26차례의 답변서와 의견서를 접수하했으며, 2회의 현지 조사, 조사대상물품에 대한 전문기관의 분석 및 감정, 기술설명회 등의 절차를 수행했다.
□ 본 조사건의 주요 쟁점은 국내업체 A사가 수출하는 반도체 테스트 소켓(조사대상물품)이 ㈜아이에스시 특허의 권리 범위에 포함되는지 여부이다.
ㅇ 반도체 테스트 소켓은 제조된 반도체의 전기적 성능 검사를 위해 사용되는 소모품으로, 반도체 칩과 고가의 검사 장비를 전기적으로 연결하는 도전부 및 도전부를 형성하는 도전성 입자가 주요 구성이다.
ㅇ 양 당사자는 조사대상물품의 도전성 입자의 형상 및 도전성 입자들이 도전부에 배치된 형태가 ㈜아이에스시 특허의 청구 범위에 기재된 구성에 해당하는지 여부에 대해 대립했다.
반도체 테스트소켓 특허권 침해 조사건에 대해 무역위원회는 2회의 무엇을 실시했어