특허정보가 특허정보원의 경우이건, 설문조사이건 특허정보에서 기술적 성과라는 지수의 구성은 기본적으로 국내 특허 지수와 외국 특허지수를 계산한 뒤 가중평균한 것이다. 특허정보원의 경우 외국 특허는 미국특허등록정보만 해당하며, 설문조사에 기반한 정보는 앞서 설명한 것처럼 삼국특허와 기타 외국 특허로 이루어진다. 본고에서는 설문조사의 데이터에 기반해서 기술적 성과를 구성하고자 하는데 이는 설문조사에 의존해야 한다. 그래서 모집단 전체의 특허 수를 사용해서 모집단의 특허 분포(간략하게 상위와 하위)를 도출하고, 응답한 기업들이 이 분포에 얼마 나 치우침 없이 응답했는지를 확인하기 위해서 부분적으로 활용하고자 한다.
기술적 성과의 구성은 국내외 특허 지수를 계산해 가중평균한 것이다. 본고에서는 특허 수를 이용해 특허 분포를 도출하고, 부분적으로 활용하며 기술적 성과를 구성하려 한다. 