본 연구실에서는 Gouy 위상 변화를 이용한 간섭계를 통하여 주파수 스캔 없이 축 방향 분해능을 높임으로써 이미지 획득 속도를 높이는 3차원 이미징 방법을 개발하였다. 그림 5와 같이 기본적인 실험 구성은 SS OCT 방식과 같지만, 본 연구에서는 간섭계의 두 갈래 빔 경로의 길이를 정확하게 맞춤으로써 샘플에 의한 발생한 두 갈래 빔 경로의 작은 차이를 민감하게 검출할 수 있는 시스템을 고안 및 구성하였고, 그 결과로 주파수 스캔 없이 100μm 이하의 축 방향 분해능을 획득했다. 그림 5(b)를 보면, 실제 기계적으로 측정한 샘플의 광학적 두께와 간섭계를 통한 측정의 결과를 바탕으로 얻은 계산적 광학적 두께가 잘 맞는 것을 확인할 수 있다.
본 연구실에서는 Gouy 위상 변화를 이용한 간섭계를 통해 주파수의 스캔 없이 축 방향 분해능을 높임으로써, 이미지 획득 속도를 높이는 3차원 이미징 방법을 개발하였다.