Silicon Characterization은 모든 성능 파라미터를 Measurement를 통해 도출하는 것이 목표가 되어야 하며 Measurement를 함에 있어 제약사항이 있다면 해당 사항을 기술하여 Risk Management가 될 수 있도록 해야 한다. Silicon Characterization을 함에 있어 PVT(Process, Voltage, Temperature)에 따른 성능 Variation이 도출되어야 하며 만일 Corner Lot 미진행 등으로 Process Variation을 확인하지 못한 경우라면 이에 대한 Limitation을 기술하도록 한다.
Silicon Characterization은 모든 성능 파라미터를 Measurement를 통해 도출하는 것이 목표이며 제약사항을 기술하여 위험관리를 해야 한다.