넷째, IRT를 활용한 수직척도화를 통해 초등 전기 및 후기 검사를 연계하여 발달점수척도를 개발하고, 이 척도상에서 국제 공통의 성취수준을 구분하는 분할점수를 찾는다. 공통문항 설계에서 IRT 수직척도화는 공통문항을 가진 두 검사의 문항모수와 능력분포를 어느 한 기준 능력척도에 표현함으로써 이루어진다. 이를 위해, IRT 문항모수 및 능력분포는 검사별로 독립적으로 추정되거나 검사자료를 통합하여 동시에 추정된다. 개별추정의 경우, 한 검사의 문항모수와 능력분포는 다른 검사의 능력척도로 변환되어야 한다. 이로써 개발된 공통의 IRT 능력척도는 규준적 정보나 측정오차의 정보가 가미되어 발달점수척도로 변환된다(Kolen & Brennan, 2014). 이 국제공통의 발달점수척도에서 기준설정 작업을 통해 국제공통의 성취수준들 간의 경계지점을 찾는다. 기술적으로, 분할점수를 설정하기 위해 수정된/확장된 Angoff 방법이나 Bookmark 방법이 사용될 수 있다.
IRT수직척도화를 통해 발달점수척도를 개발하고, 국제 공통의 분할점수를 찾는다. 이는 공통문항을 가진 두 검사의 문항모수와 능력분포를 어느 한 기준 능력척도에 표현함으로써 이루어진다. 분할점수를 설정을 위해  Angoff , Bookmark 방법이 사용된다.