본 연구에서는 석회암 지역의 변질대를 규명하고 정량적으로 분류하기 위해 기존의 변질지수 및 본 연구에서 제안한 변질지수를 이용하였다. 고정밀 XRF, 휴대용 XRF, ICP-AES를 이용한 성분분석 결과를 기존 변질지수인AI (Alteration Index)와 CCPI (Chloirte-Carbonate-Pyrite Index)에 적용한 결과 분석기기에 따른 정확도 차이는 있으나 전체적인 경향은 유사했고, 고품위 석회암, 백운암, 견운모화 변질을 받은 암석 등을 구분할 수 있었다. 기존 변질지수는 스카른 광물 및 금속 광물을 분류하기에 어려움이 있어 본 연구에서는 AI에서 Fe 함량을 추가로 고려하는 스카른변질지수(SAI, Skarn Alteration Index)를 제안하였다. 이를 이용하여 석회암과 스카른을 정량적으로 구분하였고 향후 스카른 광상 탐사에서 유용하게 활용할 수 있을 것으로 기대한다. 또한, 변질지수 분석 시 휴대용 XRF가 측정할 수없는 Na의 영향을 평가한 결과 Na가 AI와 SAI의 결과값에 미치는 영향은 미미하였으며 이는 광역적 변질대 파악에있어 다수의 자료를 현장에서 확보할 수 있는 휴대용 XRF의 적용 가능성을 시사한다.
이 연구에서는 석회암 지역의 변질대를 규명하고 정량적으로 분류하기 위해 기존의 변질지수 및 본 연구에서 제안한 변질지수를 이용하였다.