낮은 검출한계에 주안점을 두고서 ICP-MS를 이용하여 텅스텐 매트릭스에서 미량원소분석을 연구하였다. 먼저 표준용액을 이용하여 기기의 최적조건을 찾은 다음 미량분석을 실시하였다. 텅스텐 매트릭스에서 대표적인 원소의 3σ 검출한계를 구하였으며, 기존의 ICP-AES, DC-Arc 등의 방법과 비교 분석하였다. 질량수 61 이상의 대부분 원소에 대해서는 방해가 거의 없으며 낮은 검출한계를 보였다. 텅스텐 매트릭스에 표준물질 일정 농도들을 첨가하여 회수율을 구한 결과 첨가량과 잘 일치하는 결과를 얻었다. 또한 실제 시료의 분석결과 기존의 ICP-AES와 DC Arc 등의 분석결과보다 우수한 결과를 얻었다.
표준용액을 이용해 기기의 최적조건을 찾은 다음 미량분석을 실시했다.