물질의 구조 특성파악에 많이 사용되는 X-선과 전자선에 대한 소스 원을 살펴보고 물질과의 반응을 atomic scattering factor의 항으로 설명하였다. 물질과의 회절을 역 격자 공간에서의 Ewald sphere로 설명하고 유한 크기의 소스 파장과 검출기의 효과도 함께 고려하였다.
물질의 구조 특성파악에 많이 사용되는 X-선과 전자선에 관한 소스 원을 살펴보고 물질과의 반응을 atomic scattering factor의 항으로 설명했다.